Scheuerlein C., Michiel M.D., Lackner F., Andrieux J., Michels M., Hagner M., Meyer C., Chiriac R., Toche F.
Bottura L., Larbalestier D.C., Scheuerlein C., Rikel M.O., Hellstrom E.E., Jiang J., Kametani F., Michiel M.D., Ballarino A., Kadar J., Andrieux J., Doerrer C.
Ключевые слова: HTS, Bi2212/Ag, wires, fabrication, melting, phase formation, oxygenation treatments, PIT process, X-ray diffraction
Bottura L., Larbalestier D.C., Scheuerlein C., Rikel M.O., Hellstrom E.E., Jiang J., Kametani F., Michiel M.D., Ballarino A., Kadar J., Andrieux J., Doerrer C.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.